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Über dieses Produkt
Besuchen Sie die ProduktseiteMit dem AFSEM-Rasterkraftmikroskop (AFM) können zwei der leistungsfähigsten Oberflächenanalysemethoden, AFM und REM, schnell und einfach miteinander kombiniert werden.
Mit nur einem korrelativen System erhält man eine Vielzahl unterschiedlichster Informationen über die zu vermessende Probe. Das AFSEM-Rasterkraftmikroskop ist kompatibel mit den meisten REM- oder REM/FIB-Systemen und wird direkt in ein vorhandenes REM implementiert. Alle REM-Messmethoden bleiben dabei erhalten. AFSEM verwendet andere gängige Analysemethoden wie FIB, FEBID und EDX.
Schlagworte
Mikroskope und Zubehör
Quantum Design GmbH
Breitwieserweg 9, Pfungstadt 64319
Deutschland
Lieferung: Europa
Gegründet: 1970
Mitarbeiter: 50-99
Lieferantentyp
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