AFM - RASTERKRAFTMIKROSKOPIE
Mittels Rasterkraftmikroskop kann ein dreidimensionales, digitales Bild einer Probenoberfläche erstellt werden. Eine auf einem Ausleger befestigte Nadel (Cantilever) tastet die Probenoberfläche ab und durch die Messung der Auslenkung mit Hilfe eines Laserstrahls und einer segmentierten Photodiode wird ein dreidimensionales Bild der Oberfläche erzeugt. Die Auflösung kann im Idealfall einige Å betragen, liegt also in der Größenordnung großer Atome. Diese Methode eignet sich auch für elektrisch nicht leitende Substanzen und für Untersuchungen in Flüssigkeiten.
Einsatzgebiet:
• Dreidimensionale Darstellungen von Oberflächen
• Rauhigkeitsanalysen
KONTAKTWINKELMESSUNGEN
Das Tropfenkonturanalyse-System G10/DSA10 dient zur Bestimmung der Oberflächenspannung von Flüssigkeiten auf Basis der Pendant...
RASTER-RÖNTGEN-PHOTOELEKTRONEN-SPEKTROSKOPIE (XPS)
Die XPS-Technik ist oberflächenempfindlich und dient zur Bestimmung der Oberflächenzusammensetzun...
SCHADENSANALYTIK UND GUTACHTEN
Basierend auf langjähriger Erfahrung auf dem Gebiet der elektrochemischen Oberflächentechnologie sind wir der Ansprech...
ZUG- und DRUCKPRÜFMASCHINE
Auf unserer Zug- und Druckprüfmaschine (20 kN) prüfen wir Klebeverbindungen und Beschichtungen nach:
- DIN EN 1465 (Zugsc...
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